一种基于YOLOv8改进的高精度表面缺陷检测网络， NEU-DET和GC10-DET涨点明显（自研）

创新点：1）DCNv4结合SPPF；2）C2f创新为CSPStage；3）三个检测头更新为四个检测头；

组合创新，可直接使用至其他检测任务；

创新点：在NEU-DEU任务中mAP由原始的0.709 提升至0.737

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